了解信號的來源和網(wǎng)絡(luò)作為大腦的功能是大腦研究的中心目標(biāo)。現(xiàn)在，卡內(nèi)基梅隆大學(xué)的工程師們已經(jīng)創(chuàng)建了一個系統(tǒng)，用于對正常和異常大腦信號的起源和路徑進行高密度腦電圖成像。
卡內(nèi)基梅隆大學(xué)生物醫(yī)學(xué)工程系主任 Bin He 及其同事正在研究美國國立衛(wèi)生研究院的一項核心計劃，即通過推進創(chuàng)新神經(jīng)技術(shù) (BRAIN) 進行大腦研究。
該小組在高密度腦電圖方面的工作，在Nature Communications雜志上報道，朝著實現(xiàn) BRAIN 計劃的一個中心目標(biāo)邁出了重要的一步：“產(chǎn)生一個革命性的新的大腦動態(tài)圖像，這是第一次顯示單個細胞和復(fù)雜的神經(jīng)回路如何在時間和空間上相互作用。”換句話說，開發(fā)一種觀察大腦如何做它所做的事情的方法。
“幾十年來，腦電圖 (EEG) 一直被用于追蹤大腦信號，”NIBIB 生物電磁技術(shù)項目主任王樹敏博士解釋說。“何博士和他的團隊開發(fā)了一種更強大、高密度的腦電圖版本，它可以跟蹤比以前更大的大腦區(qū)域的大腦信號。然后使用人工智能來識別這些更強的信號起源和傳播的位置大腦，非常準確。”
研究小組在癲癇患者身上測試了高密度腦電圖系統(tǒng)。個人經(jīng)歷由大腦活動的錯誤脈沖引起的癲癇發(fā)作，稱為致癲癇區(qū)。許多患者的癲癇發(fā)作可以通過藥物控制。對于那些對藥物有抵抗力的人，手術(shù)切除致癲癇區(qū)是一種臨床選擇。高密度腦電圖準確識別癲癇源的能力將大大改進腦部手術(shù)，以有效地只切除問題區(qū)域并保留周圍的腦組織。
該團隊在 36 名接受術(shù)前測試的癲癇患者身上測試了他們的方法，稱為 FAST-IRES，用于時空迭代重新加權(quán)邊緣稀疏性。FAST-IRES 非侵入性大腦記錄是在幾天內(nèi)使用特殊的高密度腦電圖陣列獲得的。FAST-IRES 是非侵入性的這一事實非常重要，因為標(biāo)準的術(shù)前測試需要侵入性 EEG，這對于查明致癲癇區(qū)域是必要的，但會增加感染、并發(fā)癥和成本的風(fēng)險。
在 36 名患者中，F(xiàn)AST-IRES 方法分析了 1000 多個 EEG 峰值，并發(fā)生了 86 次癲癇發(fā)作。然后使用 FAST-IRES 方法的人工智能部分分析高密度記錄，并與標(biāo)準侵入性腦電圖術(shù)前測試和手術(shù)結(jié)果進行比較。
FAST-IRES 方法在識別患者致癇區(qū)的位置和范圍方面極其準確，這已通過手術(shù)數(shù)據(jù)得到證實。“我們的結(jié)果清楚地表明，F(xiàn)AST-IRES 可以使用非侵入性高密度腦電圖頭皮記錄高精度地識別致癲癇區(qū)，”He 說。梅奧診所研究的合作者正在考慮在未來實施該系統(tǒng)。
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