令人痛苦的類似精神病的經(jīng)歷與青少年的損傷有關(guān)

在一項新研究中，研究人員檢查了青年時期令人痛苦和持續(xù)的類似精神病的經(jīng)歷 (PLEs) 與精神病理學(xué)的重要危險因素之間的關(guān)聯(lián)。研究人員發(fā)現(xiàn)，表明他們有持續(xù)、令人痛苦的 PLE 的青少年在認(rèn)知和報告的精神病理學(xué)等多個領(lǐng)域都表現(xiàn)出損害，這突出了這些兒童可能面臨的長期挑戰(zhàn)以及早期干預(yù)和支持的需要。這項由美國國立衛(wèi)生研究院資助的研究發(fā)表在《分子精神病學(xué)》上。

“雖然我們知道有些孩子有類似精神病的經(jīng)歷，但尚不清楚哪些孩子會在以后的生活中發(fā)展為精神病，”Sheli Avenevoli 博士說。，國家心理健康研究所(NIMH)副主任和該研究的作者。“這項研究表明，有持續(xù)、令人痛苦的精神病樣經(jīng)歷的兒童在發(fā)展過程中面臨重大挑戰(zhàn)，這表明對所有有這些經(jīng)歷的兒童進(jìn)行早期干預(yù)的價值，無論他們是否繼續(xù)發(fā)展為精神病。”

超過 17% 的 9 至 12 歲兒童經(jīng)歷 PLE，例如輕度知覺異常或妄想。然而，這些兒童中只有一小部分會發(fā)展為精神障礙。有助于區(qū)分臨床相關(guān) PLE 與良性 PLE 的一個因素是精神病經(jīng)歷是否持續(xù)和/或令人痛苦。在這項研究中，主要作者Nicole Karcher 博士。，圣路易斯華盛頓大學(xué)醫(yī)學(xué)院的研究人員研究了持續(xù)性和/或令人痛苦的 PLE 與精神病危險因素的相關(guān)程度。

研究人員利用了青少年大腦認(rèn)知發(fā)展 (ABCD) 研究的數(shù)據(jù)，這是一項大規(guī)模研究工作，正在收集美國各地 9 歲和 10 歲兒童的數(shù)據(jù)。研究人員使用了在 2016 年 9 月 1 日之間的三個時間點收集的數(shù)據(jù)和 2018 年 10 月 15 日。這包括在研究期開始時采集的基線數(shù)據(jù)和一年和兩年后收集的數(shù)據(jù)。在這些時間點中的每一個，都會評估兒童的 PLEs 和與這些經(jīng)歷相關(guān)的痛苦程度。

研究人員使用這些數(shù)據(jù)形成了四組：持續(xù)性痛苦 PLEs 組、短暫性痛苦 PLEs 組、持久性非痛苦性 PLEs 組和短暫性非痛苦性 PLEs 組。如果 PLE 在至少 2 波數(shù)據(jù)收集期間被報告，則被認(rèn)為是持久的，并且使用自我報告調(diào)查評估了痛苦。

然后他們檢查了這四組精神病的各種危險因素的差異。在第一個基線時間點測量的這些因素包括精神病理學(xué)指標(biāo)、功能指標(biāo)(例如，兒童在學(xué)校的表現(xiàn)和心理健康服務(wù)的使用情況)、認(rèn)知能力、發(fā)展里程碑成就、環(huán)境逆境、不良童年經(jīng)歷和大腦結(jié)構(gòu)和功能。

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