澳大利亞的科學(xué)家們使用單硫化錫 (SnS) 納米片制造了有史以來(lái)最薄的 X 射線探測(cè)器，有可能實(shí)現(xiàn)細(xì)胞生物學(xué)的實(shí)時(shí)成像。
X 射線探測(cè)器是一種工具，可以通過(guò)視覺(jué)或電子方式識(shí)別輻射傳輸?shù)哪芰?，如醫(yī)學(xué)成像或蓋革計(jì)數(shù)器。
SnS 作為用于光伏、場(chǎng)效應(yīng)晶體管和催化的材料已經(jīng)顯示出巨大的前景。
現(xiàn)在，成員卓越的激子學(xué)，ARC中心設(shè)在莫納什大學(xué)和皇家墨爾本理工大學(xué)，表明SnS的納米片也用作軟X射線探測(cè)器的最佳候選。
他們的研究發(fā)表在Advanced Functional Materials雜志上，表明 SnS 納米片具有高光子吸收系數(shù)，使其可用于制造具有高靈敏度和快速響應(yīng)時(shí)間的超薄軟 X 射線探測(cè)器。
發(fā)現(xiàn)這些材料比另一種新興的候選材料(金屬鹵化物鈣鈦礦)更敏感，擁有比現(xiàn)有探測(cè)器更快的響應(yīng)時(shí)間，并且可以在軟 X 射線區(qū)域?qū)`敏度進(jìn)行調(diào)整。
該團(tuán)隊(duì)制造的 SnS X 射線探測(cè)器的厚度不到 10 納米。從正確的角度來(lái)看，一張紙大約有 100,000 納米厚，而你的指甲每秒增長(zhǎng)大約 1 納米。以前，最薄的 X 射線探測(cè)器的厚度在 20 到 50 納米之間。
仍有大量工作需要探索 SnS X 射線探測(cè)器的全部潛力，但該論文的資深作者、莫納什材料科學(xué)與工程系的Jacek Jasieniak 教授認(rèn)為，這可能有朝一日實(shí)現(xiàn)對(duì) SnS X 射線探測(cè)器的實(shí)時(shí)成像。細(xì)胞過(guò)程。
“SnS 納米片在幾毫秒內(nèi)反應(yīng)非?？?，”他說(shuō)。
“您幾乎可以立即掃描某些內(nèi)容并獲得圖像。感測(cè)時(shí)間決定了時(shí)間分辨率。原則上，由于高靈敏度和高時(shí)間分辨率，您可以實(shí)時(shí)看到事物。
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